Sciences

Microscope à force atomique

DéfinitionClassé sous :physique

Le microscope à force atomique ou AFM (pour Atomic Force Microscope) est un instrument permettant d'analyser le relief à l'échelle atomique.

Doté d'une pointe à extrémité métallique de 10 nanomètres de rayon placée sur un levier flexible, l'AFM enregistre les interactions entre les atomes de la pointe et ceux de la surface à analyser. Il se produit soit une attraction, appelée force de Van des Waals, soit une répulsion (à très faible distance). Ces forces provoquent des déplacements de la pointe, entraînant des déviations du levier qui sont enregistrées et traitées par ordinateur pour donner le relief.

Applications : les nanotechnologies et la recherche biomédicale (l'étude des particules virales à la surface d'une cellule infectée par exemple).

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