Une équipe de chercheurs de Rice University (Texas) vient de décrire une nouvelle méthode pour mesurer les performances des composants d'électronique moléculaire.
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L'utilisation de moléculesmolécules organiques dans les semiconducteurssemiconducteurs est en effet une des voies explorées pour l'amélioration des caractéristiques et dépasser les limites de l'électronique CMOSCMOS traditionnelle.

Une des difficultés consiste cependant à réellement mesurer les performances de ces nouveaux composants sans utiliser les approches habituelles à base de contacts métalliques qui faussent les mesures.

Les méthodes de tests traditionnelles utilisent des empilements : électrodeélectrode métallique - monocouche moléculaire - électrode métallique. Le métalmétal est généralement déposé par une méthode CVD (déposition en phase vapeur) mais les atomesatomes métalliques à haute énergieénergie peuvent contaminer la couche organique et dégrader les molécules étudiées.

L'équipe de James Tour a mis au point une technique qui n'utilise pas de métal mais du siliciumsilicium monocristallin et des nanotubes de carbonenanotubes de carbone à simple paroi. La couche de nanotubes établit une connexion électrique entre la couche organique et des électrodes en or, en permettant de s'assurer que les effets électriques mesurés proviennent réellement des molécules organiques et pas de jonctions métalliques parasitesparasites. Ces travaux ont été publiés dans Nature Materials du mois de décembre 05.

Par Christophe Lerouge