Je tiens à remercier, premièrement, le Dr. Michel Côté, de l'Université de Montréal, ainsi que le Dr. Rogerio Lima, de l'Institut des matériaux industriels du Conseil national de recherches Canada, pour les entrevues accordées lors de la réalisation de cet article. De plus, je tiens à remercier Lyne Bujold, Jean-François Bisson, ainsi que Annie Bourbonnais, pour la correction et la relecture de celui-ci. Et, un gros merci tout spécial à Marie-Pier, qui a su faire le sale travail de « boucher des textes ».

  • BROUSSEAU, François. Complètement nano!. L'Actualité, 2002, n° Vol: 27, No: 3, pp. 28.
  • BEDROSSIAN, Peter. Scanning Tunneling Microscopy: Openning a New Era of Material Engineering en ligne. Disponible sur: http://www.llnl.gov/str/Scan.html (consulté le 05.02.02).